ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МАТЕРИАЛА ДИЭЛЕКТРИКА КЕРАМИЧЕСКИХ ЧИП - КОНДЕНСАТОРОВ ОТ ПРИЛОЖЕННОГО НАПРЯЖЕНИЯ
Опубликовано в выпуске:
СВ3/2017 (15)
, 12.12.2017
В данной работе рассмотрена зависимость материала диэлектрика керамических чип - конденсаторов от приложенного напряжения. Проведен анализ методов измерения емкости керамических чип – конденсаторов. В результате данного анализа был выбран метод измерения емкости, на основе которого построена установка для проведения эксперимента. Получены зависимости емкости керамических чип – конденсаторов с различным материалом диэлектрика от приложенного напряжения.

eLIBRARY.RU Наше издание в Научной Электронной Библиотеке eLIBRARY.RU
Публикационная активность журнала РИНЦ
Справочник по УДК Ресурс описывает универсальную десятичную классификацию (УДК)
Антиплагиат Система автоматической проверки текстов на наличие заимствований
МГТУ имени Н. Э. Баумана официальный сайт университета