Наши авторы

  1. Главная
  2. Наши авторы
  3. Ульянов Дмитрий Олегович

Ульянов Дмитрий Олегович

Студент
КФ МГТУ им. Н. Э. Баумана

izefremova@yandex.ru

Все статьи автора:

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Авторы: Андреев Дмитрий Владимирович , Ульянов Дмитрий Олегович
Опубликовано в выпуске: 2/2019 (24) , 15.06.2019
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
тонкие пленки полупроводников, полупроводниковые структуры, толщина тонких пленок, атомно-силовая микроскопия

Новости

Ключевые слова

Полезные ресурсы
eLIBRARY.RU Наше издание в Научной Электронной Библиотеке eLIBRARY.RU
Публикационная активность журнала РИНЦ
Справочник по УДК Ресурс описывает универсальную десятичную классификацию (УДК)
Антиплагиат Система автоматической проверки текстов на наличие заимствований
МГТУ имени Н. Э. Баумана официальный сайт университета