ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МАТЕРИАЛА ДИЭЛЕКТРИКА КЕРАМИЧЕСКИХ ЧИП - КОНДЕНСАТОРОВ ОТ ПРИЛОЖЕННОГО НАПРЯЖЕНИЯ
Опубликовано в выпуске:
СВ3/2017 (15)
, 12.12.2017
В данной работе рассмотрена зависимость материала диэлектрика керамических чип - конденсаторов от приложенного напряжения. Проведен анализ методов измерения емкости керамических чип – конденсаторов. В результате данного анализа был выбран метод измерения емкости, на основе которого построена установка для проведения эксперимента. Получены зависимости емкости керамических чип – конденсаторов с различным материалом диэлектрика от приложенного напряжения.