ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МАТЕРИАЛА ДИЭЛЕКТРИКА КЕРАМИЧЕСКИХ ЧИП - КОНДЕНСАТОРОВ ОТ ПРИЛОЖЕННОГО НАПРЯЖЕНИЯ

Опубликовано в выпуске: СВ3/2017 (15) , 12.12.2017
В данной работе рассмотрена зависимость материала диэлектрика керамических чип - конденсаторов от приложенного напряжения. Проведен анализ методов измерения емкости керамических чип – конденсаторов. В результате данного анализа был выбран метод измерения емкости, на основе которого построена установка для проведения эксперимента. Получены зависимости емкости керамических чип – конденсаторов с различным материалом диэлектрика от приложенного напряжения.

Новости

Полезные ресурсы