Устройство для измерения параметров микросхем серии 525ПС3
Опубликовано в выпуске:
1/2019 (23)
, 02.04.2019
Повышение выхода годных микросхем является актуальной задачей. Измерение электрических параметров микросхем – это неотъемлемая составляющая методики проверки и контроля. В данной работе описано устройство, позволяющее измерить необходимые параметры микросхемы: остаточное напряжение(мВ), нелинейность перемножения(%), погрешность перемножения(%), которое может быть применено для оперативного измерения электрических параметров выпускаемой микросхемы. В результате выполнения работы был получен комплект конструкторско-технологической документации на адаптер.

eLIBRARY.RU Наше издание в Научной Электронной Библиотеке eLIBRARY.RU
Публикационная активность журнала РИНЦ
Справочник по УДК Ресурс описывает универсальную десятичную классификацию (УДК)
Антиплагиат Система автоматической проверки текстов на наличие заимствований
МГТУ имени Н. Э. Баумана официальный сайт университета