Все статьи автора:
Исследование деградационных процессов в ИС операционных усилителей при подгонке тонкопленочных резисторов
Опубликовано в выпуске:
1/2019 (23)
, 02.04.2019

eLIBRARY.RU Наше издание в Научной Электронной Библиотеке eLIBRARY.RU
Публикационная активность журнала РИНЦ
Справочник по УДК Ресурс описывает универсальную десятичную классификацию (УДК)
Антиплагиат Система автоматической проверки текстов на наличие заимствований
МГТУ имени Н. Э. Баумана официальный сайт университета