Рубрика "Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника"

  1. Главная
  2. Рубрикатор
  3. Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника

ЗАВИСИМОСТЬ СТАБИЛЬНОСТИ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ОТ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИЕВОЙ СТРУКТУРЕ

Авторы: Безруков Александр Владимирович , Белоусова Екатерина Викторовна , Парамонов Виктор Васильевич
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
напряжение смещения нуля, дефекты упаковки, линии скольжения, кремниевая структура, полупроводник, интегральная микросхема

МОДЕЛИРОВАНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ ЗАРЯДОВОГО СОСТОЯНИЯ МДП-СТРУКТУР В РЕЖИМЕ СИЛЬНОПОЛЕВОЙ ИНЖЕКЦИИ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ

Авторы: Романов Андрей Владимирович
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
КМДП-ИМС, сильное электрическое поле, радиационное излучение, инжекция электронов, подзатворный диэлектрик, МДП-структура

ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ АБРАЗИВНОГО ИЗНАШИВАНИЯ ДЕТАЛЕЙ МАШИН

Авторы: Мусохранов Марсель Владимирович
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
энергетическое состояние, поверхность, износ, физические модели

ФИЗИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ МЕТАЛЛОВ

Авторы: Калмыков Вадим Владимирович , Мусохранов Марсель Владимирович
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
физико-механические свойства, энергетическое состояние, поверхность, износ

ЗАЩИТА МИКРОСХЕМ ИЗГОТОВЛЕННЫХ ПО КМОП-ТЕХНОЛОГИИ ОТ ВОЗДЕЙСТВИЯ СТАТИЧЕСКОГО ЭЛЕКТРИЧЕСТВА

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Максимов Игорь Владимирович , Столяров Александр Алексеевич
Опубликовано в выпуске: СВ1/2017 (11) , 24.04.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
статическое электричество, статический заряд, МОП-транзистор, КМОП-технология

КОРРЕКТИРОВКА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ РЕЖИМОВ ПОЛУЧЕНИЯ ПОДЗАТВОРНОГО ДИЭЛЕКТРИКА КМДП-ИС

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Шмаков Андрей Николаевич
Опубликовано: 16.07.2016
Опубликовано в выпуске: 2/2016 (6)
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
высокотемпературный отжиг, инжекция электронов, КМДП-ИС, подзатворный диэлектрик, МДП-структура

Роль исходных материалов и особенности их обработки в разработке вольфрамово-медных композиций

Авторы: Прасицкий Григорий Васильевич
Опубликовано: 25.12.2015
Опубликовано в выпуске: 4/2015 (4)
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
технология изготовления, гранулометрический состав, порошки, вольфрамово-медные теплоотводы

Термодинамическая модель легирования арсенида галлия бериллием в хлоридно-гидридной газофазной эпитаксии

Авторы: Козлов Николай Юрьевич , Стрельченко Станислав Сергеевич
Опубликовано: 25.12.2015
Опубликовано в выпуске: 4/2015 (4)
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
Бериллий, Хлоридно-гидридная газофазная эпитаксия, Эпитаксиальные слои арсенида галлия, Легирование

ТЕХНИКА ОБРАБОТКИ ИСТОЧНИКОВ ЭЛЕКТРОНОВ С НАНОПОКРЫТИЯМИ ДЛЯ ИЗДЕЛИЙ КВАНТОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ

Авторы: Пчелинцева Наталья Ибрагимовна , Чистяков Михаил Геннадьевич
Опубликовано: 25.12.2015
Опубликовано в выпуске: 4/2015 (4)
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
масс-спектрометрический метод, вакуумно-термическая обработка, малогабаритные газоразрядные резонаторы квантовой электроники, холодные источники электронов

Алгоритмы моделирования динамики заряженных дислокаций в ультразвуковом поле

Авторы: Манухина Дарья Владимировна , Плотников Федор Алексеевич , Потапов Андрей Евгеньевич , Супрун Ирина Валерьевна
Опубликовано: 30.10.2015
Опубликовано в выпуске: 3/2015 (3)
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
ультразвук, моделирование, Дислокация
  • Страницы:
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4

Новости

Ключевые слова

Полезные ресурсы
eLIBRARY.RU Наше издание в Научной Электронной Библиотеке eLIBRARY.RU
Публикационная активность журнала РИНЦ
Справочник по УДК Ресурс описывает универсальную десятичную классификацию (УДК)
Антиплагиат Система автоматической проверки текстов на наличие заимствований
МГТУ имени Н. Э. Баумана официальный сайт университета