Рубрика "Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника"

  1. Главная
  2. Рубрикатор
  3. Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника

Разработка RISC-V процессора для применения в системах на кристалле

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Корнев Сергей Александрович
Опубликовано в выпуске: 2/2021 (33) , 18.07.2021
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
КМОП технология, RISC-V, микросхема, языки описания аппаратуры, цифровая схемотехника, Verilog, HDL, Cadence Genus, процессор, моделирование

Исследование и оптимизация печатной платы для испытательного стенда

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Куропатова Любовь Сергеевна
Опубликовано в выпуске: 1/2021 (32) , 14.05.2021
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
отраженный сигнал, screening-анализ, Altium Designer, печатная плата, моделирование

АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ УСТАНОВКА ИЗМЕРЕНИЯ КВАЗИСТАТИЧЕСКИХ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МДП-СТРУКТУР

Авторы: Андреев Дмитрий Владимирович , Кулагин Владислав Сергеевич
Опубликовано в выпуске: 2/2020 (29) , 31.08.2020
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
квазистатические C-V характеристики, Автоматизированная установка, МДП-структура

Синтез и моделирование микросхемы двухканального формирователя прямоугольных импульсов

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Корнев Сергей Александрович
Опубликовано в выпуске: 1/2020 (28) , 08.05.2020
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
языки описания аппаратуры, цифровая схемотехника, ModelSim, Verilog, HDL, Cadence Genus, Cadence Virtuoso, КМОП микросхема, моделирование

Выбор и обоснование состава пленочной композиции для получения пленочного постоянного магнита с намагниченностью в плоскости пленки, совместимого с кремниевой интегральной технологией

Авторы: Аунг Чжо Чжо , Зайончковский Вячеслав Станиславович
Опубликовано в выпуске: 4/2019 (27) , 25.12.2019
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
спинодальный распад, отжиг, коэрцитивная сила, тонкие пленки, Магнетронное напыление

Применение косвенной обратной связи для КМОП операционного усилителя с проектными нормами 0,5 мкм

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Терских Алексей Олегович
Опубликовано в выпуске: 3/2019 (26) , 07.11.2019
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
Virtuoso Cadence, топология, Косвенная обратная связь, КМОП микросхема, операционный усилитель

ИССЛЕДОВАНИЕ И ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНОГО МДП-КОНДЕНСАТОРА НА ОСНОВЕ ПЛЕНОК ДИОКСИДА И НИТРИДА КРЕМНИЯ ДЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Вовченко Ольга Николаевна , Столяров Александр Алексеевич
Опубликовано в выпуске: СВ1/2019 (25) , 15.07.2019
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
напряжение пробоя, нитрид кремния, диоксид кремния, тонкопленочный МДП-конденсатор, интегральная микросхема

АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ УСТАНОВКА ИЗМЕРЕНИЯ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МДП-СТРУКТУР ВЫСОКОЧАСТОТНЫМ МЕТОДОМ

Авторы: Андреев Дмитрий Владимирович , Кудряшов Евгений Александрович
Опубликовано в выпуске: 2/2019 (24) , 15.06.2019
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
Автоматизированная установка, Вольт-фарадные характеристики, МДП-структура

МИНИМИЗАЦИЯ ПРОХОЖДЕНИЯ ПОМЕХ ОТ ИМПУЛЬСНОГО СТАБИЛИЗАТОРА НАПРЯЖЕНИЯ ЧЕРЕЗ ЛИНЕЙНЫЙ СТАБИЛИЗАТОР

Авторы: Лоскутов Сергей Александрович , Толоконников Вадим Эдуардович
Опубликовано в выпуске: 2/2019 (24) , 15.06.2019
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
шумы, пульсации, импульсный стабилизатор напряжения, линейный стабилизатор напряжения

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Авторы: Андреев Дмитрий Владимирович , Ульянов Дмитрий Олегович
Опубликовано в выпуске: 2/2019 (24) , 15.06.2019
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
тонкие пленки полупроводников, полупроводниковые структуры, толщина тонких пленок, атомно-силовая микроскопия
  • Страницы:
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

Новости

Ключевые слова

Полезные ресурсы
eLIBRARY.RU Наше издание в Научной Электронной Библиотеке eLIBRARY.RU
Публикационная активность журнала РИНЦ
Справочник по УДК Ресурс описывает универсальную десятичную классификацию (УДК)
Антиплагиат Система автоматической проверки текстов на наличие заимствований
МГТУ имени Н. Э. Баумана официальный сайт университета